атомдук күч afm микроскобу
Атомдук күч микроскобу (AFM), катуу материалдардын, анын ичинде изоляторлордун беттик түзүлүшүн изилдөө үчүн колдонула турган аналитикалык аспап.Ал текшериле турган үлгүнүн бети менен микро күчкө сезгич элементтин ортосундагы өтө начар атом аралык өз ара аракеттенүүнү аныктоо аркылуу заттын беттик түзүлүшүн жана касиеттерин изилдейт.Алсыз күчтүн жуптары өтө сезгич микро-консоль аягы бекитилет, кичинекей учу үлгүгө жакын башка учу болот, андан кийин ал аны менен өз ара аракеттенет, күч микро-консоль деформациясын же кыймыл абалын өзгөртөт.Үлгү сканерлөөдө, сенсор бул өзгөрүүлөрдү аныктоо үчүн колдонулушу мүмкүн, биз нано-резолюциядагы маалыматтын беттик морфологиясын жана беттик тегиздик маалыматын алуу үчүн күч маалыматын бөлүштүрө алабыз.
★ Интеграцияланган сканерлөөчү зонд жана үлгү бугу тоскоолдуктарга каршы жөндөмдүүлүктү жогорулатты.
★ Так лазер жана зондду жайгаштыруу аппараты зондду өзгөртүүнү жана такты жөндөөнү жөнөкөй жана ыңгайлуу кылат.
★ Үлгү зондунун жакындоо ыкмасын колдонуу менен ийне үлгү сканерлөөсүнө перпендикуляр болушу мүмкүн.
★ Автоматтык импульс кыймылдаткычын башкаруу үлгүсүндөгү зонд вертикалдуу жакындап, сканерлөө аймагынын так жайгашуусуна жетишүү үчүн.
★ Үлгү сканерлөө аймагы жогорку тактыктагы үлгүдөгү мобилдик аппараттын дизайнын колдонуу менен эркин жылдырылышы мүмкүн.
★ Оптикалык жайгашуусу менен CCD байкоо системасы реалдуу убакыт режиминде байкоо жүргүзүүгө жана зонд үлгүсүн сканерлөө аймагын аныктоого жетишет.
★ Модулдаштыруунун электрондук башкаруу системасынын конструкциясы схеманы тейлөөгө жана үзгүлтүксүз өркүндөтүүгө жардам берди.
★ бир нече сканерлөө режимин башкаруу схемасын интеграциялоо, программалык камсыздоо системасы менен кызматташат.
★ Жазгы суспензия, бул жөнөкөй жана практикалык жактан жакшыртылып, кийлигишүүгө каршы жөндөмү.
| Иш режими | FM-тактоо, кошумча контакт, сүрүлүү, фаза, магниттик же электростатикалык |
| Өлчөмү | Φ≤90мм,H≤20мм |
| Scanningrange | 20 мммин XY багыты,Z багытында 2 мм. |
| Scanningresolution | XY багытында 0,2нм,Z багытында 0,05нм |
| Үлгүнүн кыймыл диапазону | ±6,5мм |
| Мотордун импульстук кеңдиги жакындайт | 10±2ms |
| Сүрөттүн үлгү алуу чекити | 256×256,512×512 |
| Оптикалык чоңойтуу | 4X |
| Оптикалык чечим | 2,5 мм |
| Скандоо ылдамдыгы | 0,6Гц~4,34Гц |
| Скандоо бурчу | 0°~360° |
| Скандоону башкаруу | XY багытында 18 биттик D/A,16-бит D/A Z багытында |
| Маалыматтарды тандоо | 14-битА / Д,double16-бит A/D көп каналдуу синхрондуу тандоо |
| Пикир | DSP санариптик пикир |
| Пикир тандоо ылдамдыгы | 64.0KHz |
| Компьютер интерфейси | USB2.0 |
| Иштөө чөйрөсү | Windows98/2000/XP/7/8 |